|
Szczegóły Produktu:
|
| Nazwa produktu: | Tranzystor wysokoprądowy | Model: | AP30N10D |
|---|---|---|---|
| Pakiet: | TO-252-3L | Cechowanie: | AP30N10D XXX RRRR |
| VDSDrain-Source Voltage: | 100 V. | VGSGate-Sou rce Napięcie: | ± 20 V. |
| High Light: | n kanałowy tranzystor mosfet,tranzystor wysokiego napięcia |
||
AP30N10D Tranzystor wysokoprądowy, tranzystor polowy 30A 100V TO-252
Typy tranzystorów wysokoprądowych
Tranzystory MOSFET mogą być różnych typów, w tym:
Tryb wyczerpania: normalnie włączony. Zastosowanie VGS wyłączyłoby go.
Tryb ulepszenia: normalnie wyłączony. Zastosowanie VGS spowoduje WŁĄCZENIE.
Tranzystory MOSFET typu N: dodatnie napięcia i prądy.
Tranzystory MOSFET kanału P: ujemne napięcia i prądy.
MOSFET niskiego napięcia: BVDSS od 0 V do 200 V.
Tranzystory MOSFET wysokiego napięcia: BVDSS powyżej 200 V.
Funkcje tranzystorów wysokoprądowych
VDS = 100 V ID = 30 A.
RDS (WŁ.) <47 mΩ @ VGS = 10 V.
Wysokie użycie tranzystora
Ochrona baterii
Przełącznik obciążenia
Nieprzerwana dostawa energii
Informacje na temat oznaczania paczek i zamawiania
| ID produktu | Pakiet | Cechowanie | Ilość (PCS) |
| AP30N10D | TO-252-3L | AP30N10D XXX RRRR | 2500 |
Bezwzględne maksymalne oceny Tc = 25 ℃, chyba że zaznaczono inaczej
| Symbol | Parametr | Ocena | Jednostki |
| VDS | Napięcie dren-źródło | 100 | V. |
| VGS | Napięcie bramkowe | ± 20 | V. |
| ID @ TC = 25 ℃ | Ciągły prąd drenu, V GS @ 10 V 1 | 30 | ZA |
| ID @ TC = 100 ℃ | Ciągły prąd drenu, V GS @ 10 V 1 | 13.5 | ZA |
| ID @ TA = 25 ℃ | Ciągły prąd drenu, V GS @ 10 V 1 | 4.2 | ZA |
| ID @ TA = 70 ℃ | Ciągły prąd drenu, V GS @ 10 V 1 | 3.4 | ZA |
| IDM | Impulsowy prąd spustowy 2 | 45 | ZA |
| EAS | Energia lawinowa pojedynczego impulsu 3 | 36,5 | mJ |
| MSR | Prąd lawinowy | 27 | ZA |
| PD @ TC = 25 ℃ | Całkowite rozproszenie mocy 4 | 52,1 | W. |
| PD @ TA = 25 ℃ | Całkowite rozproszenie mocy 4 | 2) | W. |
| TSTG | Zakres temperatur przechowywania | Od -55 do 150 | ℃ |
| TJ | Zakres temperatur złącza roboczego | Od -55 do 150 | ℃ |
| RθJA | Odporność termiczna Złącze-otoczenie 1 | 62 | ℃ / W |
| RθJC | Obudowa złącza termicznego 1 | 2.4 | ℃ / W |
| Symbol | Parametr | Warunki | Min. | Typ. | Max. | Jednostka |
| BVDSS | Napięcie przebicia dren-źródło | VGS = 0 V, ID = 250uA | 100 | --- | --- | V. |
| △ BVDSS / TJ | Współczynnik temperaturowy BVDSS | Odniesienie do 25 ℃, ID = 1mA | --- | 0,098 | --- | V / ℃ |
RDS (WŁ.) | Rezystancja statycznego źródła drenażu | VGS = 10 V, ID = 20 A. | --- | 38 | 47 | mΩ |
| VGS = 4,5 V, ID = 15 A. | --- | 40 | 50 | |||
| VGS (th) | bramka napięcia progowego | 1.3 | --- | 2.5 | V. | |
| △ VGS (th) | VGS (th) Współczynnik temperaturowy | --- | -5,52 | --- | mV / ℃ | |
| IDSS | Prąd upływowy źródła drenażu | VDS = 80 V, VGS = 0 V, TJ = 25 ℃ | --- | --- | 10 | USA |
| VDS = 80 V, VGS = 0 V, TJ = 55 ℃ | --- | --- | 100 | |||
| IGSS | Prąd upływowy w bramie | VGS = ± 20 V, V DS = 0 V. | --- | --- | ± 100 | nA |
| gfs | Przekaźniki nadprzewodnikowe | VDS = 5 V, ID = 20 A. | --- | 28,7 | --- | S. |
| Rg | Odporność na bramę | VDS = 0 V, VGS = 0 V, f = 1 MHz | --- | 1.6 | 3.2 | Ω |
| Qg | Total Gate Charge (10 V) | --- | 60 | 84 | ||
| Qs | Opłata za bramę | --- | 9.7 | 14 | ||
| Qgd | Opłata za drenaż bramy | --- | 11,8 | 16.5 | ||
| Td (włączony) | Czas opóźnienia włączenia | --- | 10.4 | 21 | ||
| Tr | Czas narastania | --- | 46 | 83 | ||
| Td (wył.) | Czas opóźnienia wyłączenia | --- | 54 | 108 | ||
| Tf | Czas upadku | --- | 10 | 20 | ||
| Ciss | Pojemność wejściowa | --- | 3848 | 5387 | ||
| Coss | Pojemność wyjściowa | --- | 137 | 192 | ||
| Crss | Pojemność odwrotnego transferu | --- | 82 | 115 | ||
| JEST | Ciągłe źródło prądu 1,5 | VG = VD = 0 V, siła prądu | --- | --- | 22 | ZA |
| IZM | Impulsowe źródło prądu 2,5 | --- | --- | 45 | ZA | |
| VSD | Napięcie przewodzenia diody 2 | VGS = 0 V, IS = 1 A, TJ = 25 ℃ | --- | --- | 1.2 | V. |
| trr | Odwrócony czas odzyskiwania | IF = 20A, dI / dt = 100A / µs, | --- | 30 | --- | nS |
| Qrr | Odwrotna opłata za odzysk | --- | 37 | --- | nC |
| Symbol | Parametr | Warunki | Min. | Typ. | Max. | Jednostka |
| BVDSS | Napięcie przebicia dren-źródło | VGS = 0 V, ID = 250uA | 100 | --- | --- | V. |
| △ BVDSS / TJ | Współczynnik temperaturowy BVDSS | Odniesienie do 25 ℃, ID = 1mA | --- | 0,098 | --- | V / ℃ |
RDS (WŁ.) | Rezystancja statycznego źródła drenażu | VGS = 10 V, ID = 20 A. | --- | 38 | 47 | mΩ |
| VGS = 4,5 V, ID = 15 A. | --- | 40 | 50 | |||
| VGS (th) | bramka napięcia progowego | 1.3 | --- | 2.5 | V. | |
| △ VGS (th) | VGS (th) Współczynnik temperaturowy | --- | -5,52 | --- | mV / ℃ | |
| IDSS | Prąd upływowy źródła drenażu | VDS = 80 V, VGS = 0 V, TJ = 25 ℃ | --- | --- | 10 | USA |
| VDS = 80 V, VGS = 0 V, TJ = 55 ℃ | --- | --- | 100 | |||
| IGSS | Prąd upływowy w bramie | VGS = ± 20 V, V DS = 0 V. | --- | --- | ± 100 | nA |
| gfs | Przekaźniki nadprzewodnikowe | VDS = 5 V, ID = 20 A. | --- | 28,7 | --- | S. |
| Rg | Odporność na bramę | VDS = 0 V, VGS = 0 V, f = 1 MHz | --- | 1.6 | 3.2 | Ω |
| Qg | Total Gate Charge (10 V) | --- | 60 | 84 | ||
| Qs | Opłata za bramę | --- | 9.7 | 14 | ||
| Qgd | Opłata za drenaż bramy | --- | 11,8 | 16.5 | ||
| Td (włączony) | Czas opóźnienia włączenia | --- | 10.4 | 21 | ||
| Tr | Czas narastania | --- | 46 | 83 | ||
| Td (wył.) | Czas opóźnienia wyłączenia | --- | 54 | 108 | ||
| Tf | Czas upadku | --- | 10 | 20 | ||
| Ciss | Pojemność wejściowa | --- | 3848 | 5387 | ||
| Coss | Pojemność wyjściowa | --- | 137 | 192 | ||
| Crss | Pojemność odwrotnego transferu | --- | 82 | 115 | ||
| JEST | Ciągłe źródło prądu 1,5 | VG = VD = 0 V, siła prądu | --- | --- | 22 | ZA |
| IZM | Impulsowe źródło prądu 2,5 | --- | --- | 45 | ZA | |
| VSD | Napięcie przewodzenia diody 2 | VGS = 0 V, IS = 1 A, TJ = 25 ℃ | --- | --- | 1.2 | V. |
| trr | Odwrócony czas odzyskiwania | IF = 20A, dI / dt = 100A / µs, | --- | 30 | --- | nS |
| Qrr | Odwrotna opłata za odzysk | --- | 37 | --- | nC |
Uwaga :
1. Dane testowane przez montaż powierzchniowy na 1 calowej płycie FR-4 z miedzią 2OZ.
2. Dane testowane pulsacyjnie, szerokość impulsu ≦ 300us, cykl pracy ≦ 2%
3. Dane EAS pokazują Max. ocena Warunkiem testu jest VDD = 25 V, VGS = 10 V, L = 0,1 mH, IAS = 27A
4. Rozpraszanie mocy jest ograniczone przez temperaturę złącza 150 ℃
5. Dane są teoretycznie takie same jak IDand IDM, w rzeczywistych zastosowaniach powinny być ograniczone całkowitym rozproszeniem mocy.
Uwaga
1, Żaden opisany lub zawarty w nim produkt APM Microelectronics nie ma specyfikacji, które mogłyby obsługiwać aplikacje wymagające wyjątkowo wysokiego poziomu niezawodności, takie jak systemy podtrzymywania życia, systemy sterowania samolotem lub inne aplikacje, których awarii można racjonalnie oczekiwać w wyniku poważne szkody fizyczne i / lub materialne. Przed użyciem jakichkolwiek produktów APM Microelectronics opisanych lub zawartych w tych aplikacjach skonsultuj się z najbliższym przedstawicielem APM Microelectronics.
2, APM Microelectronics nie przyjmuje odpowiedzialności za awarie sprzętu wynikające z używania produktów o wartościach przekraczających nawet chwilowo wartości znamionowe (takie jak maksymalne wartości znamionowe, zakresy warunków pracy lub inne parametry) wymienione w specyfikacjach produktów wszystkich produktów APM Microelectronics opisane lub zawarte w niniejszym dokumencie.
3, Specyfikacje wszystkich opisanych tutaj lub zawartych produktów APM Microelectronics w sposób niezależny określają wydajność, charakterystykę i funkcje opisanych produktów i nie stanowią gwarancji wydajności, właściwości i funkcji opisanych produktów w stanie zamontowanym produkty lub sprzęt klienta. Aby zweryfikować objawy i stany, których nie można ocenić w niezależnym urządzeniu, klient powinien zawsze oceniać i testować urządzenia zamontowane w produktach lub sprzęcie klienta.
4, APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. stara się dostarczać wysokiej jakości produkty o wysokiej niezawodności. Jednak niektóre produkty półprzewodnikowe zawodzą z pewnym prawdopodobieństwem. Możliwe jest, że te probabilistyczne awarie mogą prowadzić do wypadków lub zdarzeń, które mogą zagrozić życiu ludzi, które mogą spowodować powstanie dymu lub ognia, lub które mogą spowodować szkody w innych mieniach. Przy projektowaniu sprzętu stosuj środki bezpieczeństwa, aby tego rodzaju wypadki lub zdarzenia nie mogły się zdarzyć. Takie środki obejmują między innymi obwody ochronne i obwody zapobiegające błędom do bezpiecznego projektowania, projektowania redundantnego i projektowania strukturalnego.
5, W przypadku, gdy jakikolwiek lub wszystkie produkty APM Microelectronics (w tym dane techniczne, usługi) opisane lub zawarte w niniejszym dokumencie są kontrolowane zgodnie z obowiązującymi lokalnymi przepisami i regulacjami dotyczącymi kontroli eksportu, takich produktów nie wolno eksportować bez uzyskania pozwolenia eksportowego od władz dotyczy zgodnie z powyższym prawem.
6, Żadna część niniejszej publikacji nie może być powielana ani przesyłana w żadnej formie ani za pomocą jakichkolwiek środków, elektronicznych lub mechanicznych, w tym kserokopii i nagrywania, lub jakiegokolwiek systemu przechowywania lub wyszukiwania informacji, lub w inny sposób, bez uprzedniej pisemnej zgody APM Microelectronics Semiconductor CO ., SP. Z O.O.
7, informacje (w tym schematy i parametry obwodu) w niniejszym dokumencie mają jedynie charakter przykładowy; nie jest gwarantowane w przypadku produkcji seryjnej. APM Microelectronics uważa, że informacje zawarte w tym dokumencie są dokładne i wiarygodne, ale nie udziela się żadnych gwarancji ani nie sugeruje ich wykorzystania ani żadnych naruszeń praw własności intelektualnej lub innych praw osób trzecich.
8, Wszelkie informacje opisane lub zawarte w niniejszym dokumencie mogą ulec zmianie bez powiadomienia z powodu ulepszenia produktu / technologii itp. Projektując sprzęt, zapoznaj się z „Specyfikacją dostawy” produktu APM Microelectronics, którego zamierzasz używać.
Osoba kontaktowa: David
